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Laser Marker/cutter激光标记修复系统
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LaserMarker/cutter激光标记修复系统 失效分析实验室专用 可做LC液晶热点侦测 适用于IC/IC/面板内部线路修改/去层 可升级用于12英寸以内样品测试 大手柄驱动,操作舒适无回程差设计定位准确 激光Z小可加工精度1*1um1*1um 芯片内部线路/电极/PAD/PAD/PAD测试

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半导体高低温探针台 产品特点 -80~200℃无霜精确控温 舒适大手柄驱动CHUCK 可以升级做射频测试 20X~4000X光学显微放大 无后座力移动 针座平台可以快速升降便于wafer取放 应用于6/8/12寸晶圆测试

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